Kirmse, Holm : Transmissionselektronenmikroskopische Untersuchungen von II-VI-Verbindungshalbleitern unterschiedlicher Dimensionierung

152

Literaturverzeichnis

[Alani] : R. Alani, P.R. Swann ; Mat. Res. Symp. Proc., 254 , 1992 , S.43

[Albrecht] : M. Albrecht, S. Christiansen, J. Michler, P.O. Hansson, H.P. Strunk, E. Bauser ; Inst. Phys. Conf. Ser., 146 , 1995 , S.177

[Alferov] : Zh.I. Alferov ; Semicond., 32 , 1998 , S.1

[Arnold] : J. Arnold , Diplomarbeit; Herstellung und Charakterisierung von ZnSe/(Zn,Mn)Se-Quantengrabenstrukturen, Humboldt-Universität zu Berlin, 1993

[Bahnck] : D. Bahnck, R. Hull ; Mat. Res. Soc. Symp. Proc., 199 , 1990 , S.253

[Balamane] : H. Balamane, T. Halicioglu, W.A. Tiller ; Phys. Rev., B46 , 1992 , S.2250

[Barna91] : A. Barna ; Mat. Res. Soc. Symp. Proc., 254 , 1991 , S.3

[Barna92] : A. Barna ; Mater. Res. Soc. Symp. Proc., 254 , 1992 , S.3

[Barna98] : A. Barna, B. Pész, M. Menyhard ; Ultramicroscopy, 70 , 1998 , S.161

[Behrend] : J. Behrend, M. Wassermeier, K.H. Ploog; Surf. Sci., 372 , 1997 , S.307

[Bethge] : H. Bethge, J. Heydenreich ; Elektronenmikroskopie in der Festkörperphysik, Berlin, VEB Deutscher Verlag der Wissenschaften, 1982

[Bierwolf92] : R. Bierwolf, M. Hohenstein, O. Brandt, K. Ploog ; Hrsg.: J. Heydenreich, W. Neumann: Proc.: High-Resolution Electron Microscopy - Fundamentals and Applications, Wittenberg, Elbe-Druckerei, 1992

[Bierwolf93] : R. Bierwolf, M. Hohenstein, F. Phillipp, O. Brandt, G.E. Crook, K. Ploog; Ultramicroscopy, 49 , 1993 , S.273

[Bimberg97] : D. Bimberg, N. Kirstaedter, N.N. Ledentsov, Zh. I. Alferov, P.S. Kop'ev, V.M. Ustinov; IEEE J. Selected Topics in Quantum Electronics, 3 , 1997 , S.1

[Bimberg98] : D. Bimberg, M. Grundmann, N.N. Ledentsov; Quantum dot heterostructures , Chichester, New York, Weinheim , John Wiley & Sons , 1998

[Biswas] : R. Biswas, D.R. Hamann; Phys. Rev. Lett., 55 , 1985 , S.2001

[van Cappellen] : E. van Cappellen, A. Schmitz; Ultramicroscopy, 41 , 1992 , S.193

[Cerius] : CERIUS program package, San Diego (USA), Molecular Simulations Inc.,

[Chai] : M.K. Chai, S.F. Wee, K.P. Homewood, W.P. Gillin, T. Cloitre, R.L. Aulombard; Appl. Phys. Lett., 69 , 1996 , S.1579

[Chew] : N.G. Chew, A.G. Cullis; Ultramicroscopy, 23 , 1987 , S.176

[Christiansen94] : S. Christiansen, M. Albrecht, H.P. Strunk, H.J. Maier; Appl. Phys. Lett., 64 , 1994 , S.3617

[Christiansen95] : S. Christiansen, M. Albrecht, H.P. Strunk, P.O. Hansson, E. Bauser; Appl. Phys. Lett., 66 , 1995 , S.574

[Cirlin] : G.E. Cirlin, G.M. Guryanov, A.O. Golubok, S.Ya, Tipissev, N.N. Ledentsov, P.S. Kop'ev, M. Grundmann, D. Bimberg; Appl. Phys. Lett., 67 , 1995 , S.97

[Cohan-Solal] : G. Cohan-Solal, F. Bailly, M. Berbé; J. Cryst. Growth, 138 , 1994 , S.68

[Cowley57] : J.M. Cowley, A.F. Moodie; Acta Cryst., 10 , 1957 , S.609

[Cowley75] : J.M. Cowley; Diffraction Physics, Amsterdam, North Holland, 1975


153

[Craighead] : H.G. Craighead, R.E, Howard, L.D. Jackel, P.M. Mankievich; Appl. Phys. Lett., 42 , 1983 , S.38

[Cullis] : A.G. Cullis, N.G. Chew; Mat. Res. Symp. Proc., 115 , 1987 , S.3

[Dodson] : B.W. Dodson; Phys. Rev., B35 , 1987 , S.2795

[Flack] : F. Flack, N. Samarth, V. Nikitin, P.A. Crowell, J. Shi, J. Levy, D.D. Awschalom; Phys. Rev., B54 , 1996 , S.R17312

[Frank] : F.C. Frank, J.H. van der Merve; Proc. Roy. Soc., A 198 , 1949 , S.205

[Georgson] : K. Georgsson, N. Carlsson, L. Samuelson, W. Seifert, L. R. Wallenberg; Appl. Phys. Lett., 67 , 1995 , S.2981

[Goodhew] : P.G. Goodhew; Thin foil preparation for electron microscopy, in: Practical methods in electron microscopy, New York, Elsevier, 1985

[Goodman] : P. Goodman, A.F. Moodie; Acta Cryst., A30 , 1974 , S.280

[Griesche] : J. Griesche, N. Hoffmann, M. Rabe, K. Jacobs; Appl. Surf. Science, 75 , 1994 , S.64

[Haase] : M.A. Haase, J. Qiu, J.M. DePuydt, H. Cheng; Appl. Phys. Lett. , 59 , 1991 , S.1272

[Hagen] : W. Hagen, H.P. Strunk; Appl. Phys. , 17 , 1978 , S.85

[Hähnert] : I. Hähnert, M. Wienecke; Mat. Sci. Eng., B16 , 1993 , S.168

[Heinrichsdorff96] : A. Heinrichsdorff, A. Krost, M. Grundmann, D. Bimberg, A.O. Kosogov, P. Werner; Appl. Phys. Lett., 68 , 1996 , S.3284

[Heinrichsdorff97] : A. Heinrichsdorff, M.-H. Mao, N. Kirstaedter, A. Krost, D. Bimberg, A.O. Kosogov, P. Werner; Appl. Phys. Lett., 71 , 1997 , S.22

[Heitz] : R. Heitz, T.R. Ramachandran, A. Kalburge, Q. Xie, I. Mukhametzhanov, P. Chen, A. Madhukar; Phys. Rev. Lett., 78 , 1997 , S.4071

[Hirayama] : H. Hirayama, K. Matsunaga, M. Asada, Y. Suematsu; Electron. Lett., 30 , 1994 , S.142

[Hoffmann95] : N. Hoffmann, J. Griesche, W. Heimbrodt, V. Weinhold, K. Jacobs; J. Cryst. Growth, 146 , 1995 , S.422

[Hoffmann96] : N. Hoffmann, Dissertation; Molekularstrahlepitaxie von breitlückigen II-VI-Halbleitern, Humboldt-Universität zu Berlin, 1996

[Hommel] : D. Hommel, K. Leonardi, H. Heinke, H. Selke, K. Ohkawa, F. Gindele, U. Woggon; phys. stat. sol. (b), 202 , 1997 , S.835

[Howie] : A. Howie, M.J.Whelan; Proc. Roy. Soc., A263 , 1961 , S.217

[Ivey] : D.G. Ivey, G.R.Piercy; Thin Sol. Films, 149 , 1987 , S.73

[Keating] : P.N. Keating; Phys. Rev., 145 , 1966 , S.637

[Kirmse93] : H. Kirmse, Diplomarbeit; Systematische Untersuchung der Präparation von CdTe und CdTe-reichen (Cd,Zn)Te-Mischkristallen mit der Ionenstrahldünnanlage zur Abhängigkeit der erzielten Oberflächen von Geräte- und Materialparametern, Humboldt-Universität zu Berlin, 1993

[Kirmse96] : H. Kirmse, I. Hähnert, W. Neumann, R. Schneider; Hrsg.: CESM: Proc. XI. EUREM 1996, 26.-30.08.1996, Dublin, Band II Materials Science , Brussels, 1996, S.180

[Kirmse97a] : H. Kirmse, I. Hähnert, R. Schneider, W. Neumann; Hrsg.: Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie: Dreiländertagung für Elektronenmikroskopie, 07.-12.09.1997, Regensburg, Band Optik Suppl. 7 , 1997, S.60

[Kirmse97b] : H. Kirmse, I. Hähnert, W. Neumann; Proc. Micro Materials '97, 16.-18.04.1997, Berlin, Berlin, 1997, S.476

[Kirmse97c] : H. Kirmse, I. Hähnert, W. Neumann; Hrsg.: Deutsche Gesellschaft für Kristallographie: 5. Jahrestagung DGK, 10.-12.03.1997, Hamburg, Band Suppl. Z. Krist. 12 , 1997, S.113


154

[Kirmse97d] : H. Kirmse, J. Griesche, W. Neumann; Hrsg.: Deutsche Gesellschaft für Kristallographie: 5. Jahrestagung DGK, 10.-12.03.1997, Hamburg, Band Suppl. Z. Krist. 12 , 1997, S.238

[Kirmse98a] : H. Kirmse, R. Schneider, M. Rabe, W. Neumann, F. Henneberger; Appl. Phys. Lett., 72 , 1998 , S.1329

[Kirmse98b] : H. Kirmse, R. Schneider, M. Rabe, W. Neumann, F. Henneberger; Hrsg.: Deutsche Gesellschaft für Kristallographie: 6. Jahrestagung DGK, 02.-05.03.1998, Karlsruhe, Band Suppl. Z. Krist. 15 , 1998, S.173

[Kirmse99] : H. Kirmse, R. Schneider, K. Scheerschmidt, D. Conrad, W. Neumann; J. Microsc., 194 , 1999 , S.183

[Kirmse00] : H. Kirmse, W. Neumann, T. Wiebach, R. Köhler, K. Scheerschmidt, and D. Conrad; materials science and engineering B, 69-70 , 2000 , S.361

[Kisielowski] : C. Kisielowski, P. Schwander, F.H. Baumann, M. Seibt, Y. Kim, A. Ourmazd; Ultramicroscopy, 58 , 1995 , S.131

[Ko] : H.-C. Ko, D.-C. Park, Y. Kawakami, S. Fujita, S. Fujita; Appl. Phys. Lett., 70 , 1997 , S.3278

[Kratzert] : P.R. Kratzert, M. Rabe, F. Henneberger; Appl. Surf. Sci., 166 , 2000 , S.332

[Kuttler] : M. Kuttler, M. Strassburg, O. Stier, U.W. Pohl, D. Bimberg, E. Kurtz, J. Nürnberger, G. Landwehr, M. Behringer, D. Hommel; Appl. Phys. Lett., 71 , 1997 , S.243

[Landoldt-Börnstein] : Landoldt-Börnstein; Physics of II-VI and III-V Compounds, Semimagnetic Semiconductors, New Series, Band 17b, Berlin, Springer, 1982

[Ledentsov96a] : N.N. Ledentsov, M. Grundmann, N. Kirstaedter, O. Schmidt, R. Heitz, J. Böhrer, D. Bimberg, V.M. Ustinov, V.A. Shchukin, P.S. Kop'ev, Zh.I. Alferov, S.S. Ruvimov, A.O. Kosogov, P. Werner, U. Richter, U. Gösele, J. Heydenreich; Solid State Electron., 40 , 1996 , S.875

[Ledentsov96b] : N.N. Ledentsov, V.A. Shchukin, M. Grundmann, N. Kirstaedter, J. Böhrer, O. Schmidt, D. Bimberg, V.M. Ustinov, A.Yu. Egorov, A.E. Zhukov, P.S. Kop'ev, S.V. Zaitsev, N.Yu. Gordeev, Zh.I. Alferov, A.I. Borovkov, A.O. Kosogov, S.S. Ruvimov, P. Werner, U. Gösele, J. Heydenreich; Phys. Rev., B54 , 1996 , S.8743

[Li] : J.W. Li, C.-H. Chiu, H. Gao; Mater. Res. Soc. Symp. Proc., 308 , 1993 , S.317

[Lowisch] : M. Lowisch, M. Rabe B. Stemmern, F. Henneberger, M. Grundmann, V. Thürck, D. Bimberg; Phys. Rev., B54 , 1996 , S.R11074

[Marc] : User information manual, Palo Alto (CA, USA), MARC Analysis Research Corp., 1992

[Marée] : P.M.J. Marée, J.C. Barbour, J.F. van der Veen, K.L. Kavanagh, C.W.T. Bulle-Lieuwma, M.P.A. Viegers; J. Appl. Phys., 62 , 1987 , S.4413

[Mariette] : H. Mariette, M. Charleux, J.M. Hartmann, F. Kany, D. Martrou, L. Marsal, N. Magnéa, J.L. Rouvière; Microelectr. J., 30 , 1999 , S.329

[Martin] : W.E. Martin; J. Appl. Phys., 44 , 1973 , S.5639

[Martrou] : D. Martrou, J. Eymrey, P. Gentile, N. Magnéa; J. Cryst. Growth, 184/185 , 1998 , S.203

[Matthews] : J.W. Matthews, A.E. Blakeslee; J. Cryst. Growth, 29 , 1975 , S.273

[van der Merve] : J.H. van der Merve, C.A. Ball; Hrsg.: J.W. Matthews: Epitaxial Growth, Band B , New York, Academic Press, 1975

[Miyamoto] : Y. Miyamoto, M. Cao, Y. Shinagi, K. Furuya, Y. Suematsu, K.G. Ravikumar, S. Arai; Jpn. J. Appl. Phys. , 26 , 1987 , S.L225

[Neumann98] : W. Neumann, H. Kirmse, R. Schneider, K. Scheerschmidt, D. Conrad, R. Rabe, F. Henneberger; Hrsg.: H. A. Calderon, M. J. Yacaman, J. R. Gasga, G. D. Guerrero, P. S. Retchkiman: Electron Microscopy 1998, Proc. 14th International Congress on Electron Microscopy, Cancun, 31.08.-04.09.1998, Band III, Materials Sciences 2 , 1998, S.367

[Neumann99] : W. Neumann, H. Kirmse, R. Schneider, K. Scheerschmidt, D. Conrad, T. Wiebach, R. Köhler; Proc. XI. Int. Conf. on Microsc. of Semicond. Materials, 22.-25.03.1999, Oxford, Inst.


155

Phys. Conf. Ser., Band 164 , Oxford, 1999, S.145

[Pearson] : E.M. Pearson, T. Takai, T. Halicioglu, W.A. Tiller; J. Cryst. Growth, 70 , 1984 , S.33

[Pehlke] : E. Pehlke, N. Moll, A. Kley, M. Scheffler; Appl. Phys. A, 65 , 1997 , S.525

[People] : R. People, J.C. Bean; Appl. Phys. Lett., 49 , 1985 , S.322

[Petroff] : M. Petroff, A.C. Gossard, W. Wiegmann; Appl. Phys. Lett., 45 , 1984 , S.620

[Quantex] : Programmpaket Quantex+, Mainz-Finthen, Getac Instrumentenbau GmbH, 1991

[Rabe97] : M. Rabe, M. Lowisch, F. Kreller, F. Henneberger; phys. stat. sol. (b), 202 , 1997 , S.817

[Rabe98a] : M. Rabe, M. Lowisch, F. Henneberger; J. Cryst. Growth, 185 , 1998 , S.248

[Rabe98b] : M. Rabe, M. Lowisch, F. Kreller, P. Schäfer, T. Flissikowski, F. Henneberger; Hrsg.: D. Gershoni: Proceedings 24th International Conference on the Physics of Semiconductors, Jerusalem, Israel, World Scientific Singapore, 1998

[Reichow] : J. Reichow, J. Griesche, N. Hoffmann, C. Muggelberg, H. Rossmann, L. Wilde, F. Henneberger, K. Jacobs; J. Cryst. Growth, 131 , 1993 , S.277

[Reimer] : L. Reimer; Transmission Electron Microscopy, Third Edition Berlin, Heidelberg, New York, Springer, 1993

[Rosenauer95] : A. Rosenauer, T. Reisinger, E. Steinkirchner, J. Zweck, W. Gebhardt; J. Cryst. Growth, 152 , 1995 , S.42

[Rosenauer96] : A. Rosenauer, S. Kaiser, T. Reisinger, J. Zweck, W. Gebhardt; Optik, 102 , 1996 , S.63

[Rosenauer97] : A. Rosenauer, U. Fischer, D. Gerthsen, A. Förster; Appl. Phys. Lett., 71 , 1997 , S.3868

[Ruvimov] : S.S. Ruvimov, K. Scheerschmidt; phys. stat. sol. (a), 150 , 1995 , S.471

[Scheerschmidt] : K. Scheerschmidt; Computerprogramm für Molekulardynamische Simulationen, Max-Planck-Institut für Mikrostrukturphysik, Halle,

[Scheerschmidt00] : K. Scheerschmidt, D. Conrad, H. Kirmse, R. Schneider, W. Neumann; Ultramicroscopy, 81 , 2000 , S.289

[Scherzer] : O. Scherzer; J. Appl. Phys., 20 , 1949 , S.20

[Spence] : J. Spence; Experimental high resolution electron microscopy, Oxford, Oxford University Press, 1981

[Stadelmann] : P.A. Stadelmann; Ultramicroscopy, 21 , 1987 , S.131

[Stenkamp] : D. Stenkamp, H.P. Strunk; Appl. Phys., A62 , 1996 , S.369

[Stern] : M.B. Stern, H.G. Craighead, P.F. Liao, P.M. Mankievich; Appl. Phys. Lett., 45 , 1984 , S.410

[Stillinger] : F.H. Stillinger, T.A. Weber; Phys. Rev., B31 , 1985 , S.5262

[Stranski] : I.N. Stranski, L. Krastanow; Sitzungsberichte d. Akad. d. Wissenschaften in Wien, Abt. IIb, 146 , 1937 , S.797

[Straßburg] : M. Straßburg, V. Kutzer, U.W. Pohl, A. Hoffmann, I. Broser, N.N. Ledentsov, D. Bimberg, A. Rosenauer, U. Fischer, D. Gerthsen, I.L. Krestnikov, M.V. Maximov, P.S. Kop'ev, Zh.I. Alferov; Appl. Phys. Lett., 72 , 1998 , S.942

[Strecker] : A. Strecker, U. Salzburger, J. Mayer; Prakt. Metallogr., 30 , 1993 , S.10

[Tatsuoka] : H. Tatsuoka, K. Durose, M. Funaki; J. Cryst. Growth, 145 , 1994 , S.589

[Tersoff88a] : J. Tersoff; Phys. Rev., B37 , 1988 , S.6991

[Tersoff88b] : J. Tersoff; Phys. Rev., B38 , 1988 , S.9902

[Thompson] : N. Thompson; Proc. Phys. Soc., 66 , 1953 , S.481


156

[Tillmann] : K. Tillmann, A. Thust, M. Lentzen, P. Swiatek, A. Förster, K. Urban, W. Laufs, D. Gerthsen, T. Remmele, A. Rosenauer; Phil. Mag. Lett., 74 , 1996 , S.309

[Wang89] : Z.Q. Wang, D. Stroud, A.J. Markworth; Phys. Rev., B40 , 1989 , S.3129

[Wang95] : N. Wang, K.K.Fung; Ultramicroscopy, 60 , 1995 , S.427

[Weiss] : A. Weiss, H. Witte; Kristallstruktur und chemische Bindung, Berlin, Akademie-Verlag, 1983

[Williams] : D.B. Williams, C.B. Carter; Transmission Electron Microscopy: A Textbook in Materials Science, New York, Plenum Press, 1996

[Winterbon] : K.B. Winterbon; Ion Implantation Range and Energy Deposition Tables, Band II, Low Incident Ion Energies , New York, Washington, London, IFI/Plenum Data Company, 1975

[Woggon] : U. Woggon; Optical properties of semiconductor quantum dots, Berlin, Heidelberg, Springer, 1997

[Xin] : S.H. Xin, P.D. Wang, Aie Yin, C. Kim, M. Dobrowolska, J.L. Merz, J.K. Furdyna; Appl. Phys. Lett., 69 , 1996 , S.3884

[Zang] : B.P. Zang, T. Yasuda, Y. Segawa, H. Yaguchi, K. Onabe, E. Edamatsu, T. Itoh; Appl. Phys. Lett., 70 , 1997 , S.2413

[Zhu] : Z. Zhu, E. Kurtz, K. Arai, Y.F. Chen, D.M. Bagnall, P. Tomashini, F. Lu, T. Sekiguchi, T. Yao, T. Yasuda, Y. Segawa; phys. stat. sol. (b) phys. stat. sol. (b), 202 , 1997 , S.827


157

Publikationsliste

I. Utke, W. Frentrup, I. Hähnert, H. Kirmse, O. Müller, M. Schenk, M. Winkler:
Non-abruptness of heterointerfaces during LPE growth of (Hg,Cd)Te on Cd(Te,Se) substrates,
J. Cryst. Growth 162 (1996) 126-134

H. Kirmse, I. Hähnert und W. Neumann:
TEM-Untersuchungen zur thermischen Stabilität von MBE-gewachsenen ZnSe\Zn 0,8Cd 0,2Se-Strukturen auf GaAs,
5. Jahrestagung DGK, 10.-12.03.1997, Hamburg, Suppl. Z. Krist. 12 (1997) 113

H. Kirmse, J. Griesche und W. Neumann:
Computergestützte Entfaltung digitaler EDXS-Linienscans im Nanometerbereich,
5. Jahrestagung DGK, 10.-12.03.1997, Hamburg, Suppl. Z. Krist. 12 (1997) 238

H. Kirmse, I. Hähnert, and W. Neumann:
Thermal stability of ZnSe/Zn 0,8Cd 0,2Se/ZnSe interfaces grown by MBE,
Proc. Micro Materials '97, 16.-18.04.1997, Berlin, p. 476

H. Kirmse, I. Hähnert, R. Schneider und W. Neumann:
Elektronenmikroskopische Untersuchungen von Grenzflächenstrukturen heteroepitaktischer II-VI-Halbleiterverbindungen,
Dreiländertagung für Elektronenmikroskopie, 07.-12.09.1997, Regensburg, Optik Suppl. 7 ( 106) 1997, 60

I. Hähnert, H. Kirmse, R. Schneider, W. Neumann, M. Kappelt und D. Bimberg:
TEM-Charakterisierung von Quantenfäden in V-strukturiertem InP,
Dreiländertagung für Elektronenmikroskopie, 07.-12.09.1997, Regensburg, Optik Suppl. 7 ( 106) 1997, 54

H. Kirmse, I. Hähnert, W. Neumann, R. Schneider:
TEM investigation of ZnSe/Zn 0,8Cd 0,2Se/ZnSe films grown on GaAs(100) by MBE,


158

Proc. XI. EUREM 1996, 26.-30.08.1996, Dublin, Ed. CESM, Brussels, Vol. II Materials Science, 180-181

H. Kirmse, R. Schneider, M. Rabe, W. Neumann, and F. Henneberger:
TEM investigations of structural properties of self-assembled CdSe/ZnSe quantum dots,
Appl. Phys. Lett. 72 (1998) 1329-1331

W. Neumann, H. Kirmse, R. Schneider, K. Scheerschmidt, D. Conrad, R. Rabe, and F. Henneberger:
TEM characterization of self-organized CdSe/ZnSe quantum dots,
Electron Microscopy 1998, Proc. 14th International Congress on Electron Microscopy, Cancun, 31.08.-04.09.1998, ed. H. A. Calderon, M. J. Yacaman, J. R. Gasga, G. D. Guerrero and P. S. Retchkiman, Vol. III, Materials Sciences 2, 367-368

R. Schneider, H. Kirmse, W. Neumann, M. Kappelt, F. Heinrichsdorff, A. Krost, and D. Bimberg:
Characterization of III-V quantum structures by EFTEM,
Electron Microscopy 1998, Proc. 14th International Congress on Electron Microscopy, 31.08.-04.09.1998, Cancun, ed. H. A. Calderon, M. J. Yacaman, J. R. Gasga, G. D. Guerrero and P. S. Retchkiman, Vol. III, Materials Sciences 2, 429-430

H. Kirmse, R. Schneider, M. Rabe, W. Neumann und F. Henneberger:
TEM-Untersuchungen an selbstorganisierten CdSe-Quantenpunkten auf ZnSe,
6. Jahrestagung DGK, 02.-05.03.1998, Karlsruhe, Suppl. Z. Krist. 15 (1998) 173

H. Kirmse, R. Schneider, K. Scheerschmidt, D. Conrad, and W. Neumann:
TEM characterization of self-organized CdSe/ZnSe quantum dots,
J. Microsc. 194 (1999) 183-191

R. Schneider, H. Kirmse, I. Hähnert, and W. Neumann:
High-resolution analytical transmission electron microscopy of semiconductor quantum structures,
Fres. J. Anal. Chem. 365 (1999) 217-220


159

R. Schneider, H. Kirmse, W. Neumann, F. Heinrichsdorff, A. Krost, and D. Bimberg:
Analytical electron microscopy of III-V quantum dot structures,
Proc. XI. Int. Conf. on Microsc. of Semicond. Materials, 22.-25.03.1999, Oxford, Inst. Phys. Conf. Ser. No. 164 (1999) 31-34

W. Neumann, H. Kirmse, R. Schneider, K. Scheerschmidt, D. Conrad, T. Wiebach, and R. Köhler:
Computer-aided analysis of TEM micrographs of CdSe quantum dots on ZnSe,
Proc. XI. Int. Conf. on Microsc. of Semicond. Materials, 22.-25.03.1999, Oxford, Inst. Phys. Conf. Ser. No. 164 (1999) 145-148

H. Kirmse, W. Neumann, T. Wiebach, R. Koehler, K. Scheerschmidt und D. Conrad:
Interpretation von TEM-Beugungskontrast-Abbildungen von CdSe-Quantenpunkten,
7. Jahrestagung DGK, 08.-10.03.1999, Leipzig, Suppl. Z. Krist. 16 (1999) 169

C. Walther, J. Bollmann, H. Kissel, H. Kirmse, W. Neumann, and W.T. Masselink:
Non-exponential capture of electrons in GaAs with embedded InAs quantum dots,
Physica B 273-274 (1999) 971-975

H. Kirmse, W. Neumann, T. Wiebach, R. Köhler, K. Scheerschmidt, and D. Conrad:
Computer-aided analysis of TEM images of CdSe/ZnSe quantum dots,
Proc. E-MRS 1999 Spring Meeting, 01.-04.06.1999, Strasbourg, materials science and engineering B 69-70 (2000) 361-366

K. Scheerschmidt, D. Conrad, H. Kirmse, R. Schneider, and W. Neumann:
Electron microscope characterization of CdSe/ZnSe quantum dots based on molecular dynamics structure relaxations,
Ultramicroscopy 81 (2000) 289-300

C. Walther, J. Bollmann, H. Kissel, H. Kirmse, W. Neumann, and W. T. Masselink:
Characterization of electron trap states due to InAs quantum dots in GaAs,
Appl. Phys. Lett. 76 (2000) 2916-2918


160

F. Hatami, U. Müller, H. Kissel, K. Braune, R.-P. Blim, S. Rogaschewski, H. Niehus, H. Kirmse, W. Neumann, and W.T. Masselink:
Planar ordering of InP quantum dots on (001) (In,Ga)P,
J. Cryst. Growth 216 (2000) 26-32

H. Kirmse, W. Neumann, L. Müller-Kirsch und D. Bimberg:
Elektronenmikroskopische Untersuchungen von GaSb-Inseln auf GaAs,
8. Jahrestagung DGK, 13.-16.03.2000, Aachen, Suppl. Z. Krist. 17 (2000) 41

H. Kirmse, R. Schneider, W. Neumann, E. Steimetz, and W. Richter:
TEM investigations of self-organization phenomena in stacked InAs/GaAs quantum dots,
12 th EUREM, 09.-14.07.2000, Brno, Proc. Vol. II: Physical Sciences, 295-296


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Mon Sep 24 15:32:48 2001