Kirmse, Holm : Transmissionselektronenmikroskopische Untersuchungen von II-VI-Verbindungshalbleitern unterschiedlicher Dimensionierung

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Selbständigkeitserklärung

Ich versichere, die vorliegende Arbeit selbständig und nur unter Verwendung der angegebenen Literatur und Hilfsmittel verfaßt zu haben.

Berlin, den 23.08.2000

Holm Kirmse


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Mon Sep 24 15:32:48 2001