TY - THES T1 - Charakterisierung des Relaxationsverhaltens von Si 1-x Ge x /Si(001) Schichten mittels Röntgentopographie AU - Pfeiffer, Jens-Uwe PY - 2001 LA - ger PB - Humboldt-Universität zu Berlin, Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät I DO - http://dx.doi.org/10.18452/14790 ER -